Hochschule Kempten      
Fakultät Elektrotechnik      
Elektronik 3       Fachgebiet Elektronik, Prof. Vollrath      

Elektronik 3

11 MOSFET

Prof. Dr. Jörg Vollrath


10 MOSFET


Video 11 MOSEFT


Länge: 01:06:27
0:0:0 Rückblick und Heute

0:1:18 MOSFET als Schalter

0:5:6 Arbeitsbereich Linearbereich

0:7:45 RDSon

0:13:20 ALD1116 Datenblatt

0:16:39 Features

0:19:20 Absolute maximum ratings

0:20:10 Vt

0:23:16 GIS gm mho=S

0:25:30 Übertragungskennlinie und Ausgangskennlinie

0:30:32 KP = KN = 2 β

0:32:36 λ

0:34:40 CIS = Cox

0:37:28 P Kanal MOSFET Mikroskopbild

0:41:0 PFET auf dem Breadboard

0:43:30 Messschaltung

0:44:42 Datenblatt Kennlinien

0:46:48 Transistorgehäuse und Anschlüsse

0:47:22 Messaufbau

0:49:53 Arbitrary waveform generator AWG Funktionsgenerator

0:51:37 Oszilloskopbild

0:53:15 Mathematikkanal definieren.

0:53:43 xy Darstellung

0:57:10 Ausgangskennlinie

0:58:12 MOSFET Parameterextraktion

1:2:17 Trendlinie und Messung y = IDS x = UGS

1:5:30 JFET low noise, wenig Rauschen

1:10:42 Leistungs-MOSFET Drain unten

Rückblick und Heute



Elektronische Schaltungstechnik, Reinhold: Kapitel 4, S. 65-95
Microelectronic, Jaeger: Chapter 5, page: 217-284

MOSFET als Schalter

  • Der MOSFET schaltet den Strom für RD an oder aus.
  • In welchem Arbeitsbereich arbeitet der Transistor?
  • Wie groß ist der Strom durch den Transistor, die Spannung und Verlustleistung im eingeschalteten Zustand?

MOSFET als Schalter

  • Der MOSFET schaltet den Strom für RD an oder aus.
  • In welchem Arbeitsbereich arbeitet der Transistor?
\( U_{DS} \lt U_{GS}-U_{th} \) Linearbereich
Ron
\( I_{DS} = \beta \left( 2 \left(U_{GS}-U_{th}\right)U_{DS}-U_{DS}^2\right) \)
\( R_{on} = R_{DS} = \left[\frac{dI_{DS}}{dU_{DS}}\right]^{-1} = \frac{1}{\beta 2 \left(U_{GS}-U_{th}-U_{DS}\right)} \)
Für kleine UDS gilt:
\( R_{on} = \frac{1}{\beta 2 \left(U_{GS}-U_{th}\right)} \)

MOSFET Model Parameter

NMOS Transistor ALD-1116: Für einen Strom IDS=10mA finden Sie die Werte für VthN, KP, \( \lambda \), CGS und CGD aus dem Datenblatt.

P-Channel Enhancement-Mode MOSFET Transistors

Part Number \( V(BR)_{DSS} \) Min (V) \( V_{GS}(th) \) (V) \( r_{DS}(on) \) Max \( (\Omega) \) \( I_D(on) \) Min (mA) \( C_{rss} \) Max(pF) \( t_{ON} \) Typ(ns)
3N163 -40 -2 to -5 250 -5 0.7 18

Quelle Datenblatt Quelle Vollrath

P-Channel Enhancement-Mode MOSFET Transistors 3N163

  • Features
    • Ultra-Low Input Leakage:
      IGS=0.02 pA Typ.
    • High Gate Breakdown Voltage: 125 V
    • Normally Off
  • Benefits
    • High Input Impedance Isolation
    • Minimize Handling ESD Problems
    • High Off Isolation without Power
  • Applications
    • Ultra-High Input Impedance Amplifier
    • Smoke Detectors
    • Electrometers
    • Analog Switching
    • Digital Switching

Quelle Datenblatt Siliconix 3N163

Messaufbau 3N163

Source: GND, Drain: 100 Ω, AWG1, AWG2, Gate: AWG2, AWG1
  • Übertragungskennlinie
    • AWG1, Treppe 0..-10V, 50Hz, OSC1DC, VDD, 100 Ω
    • AWG2, Dreieck 0..-10V,250Hz, OSC3DC, VGS
    • OSC2DC, VDS Drainspannung, M1 = UOSC1DC - UOSC2DC
    • Kurve: x:OSC3DC y:M1
  • Ausgangskennlinie
    • AWG1, Treppe 0..-10V, 50Hz, OSC1DC, VGS
    • AWG2, Dreieck 0..-10V,250Hz, OSC3DC, VDD, 100 Ω
    • OSC2DC, VDS Drainspannung, M1=UDC3-UDC2
    • Kurve: x:DC2 y:M1
  • Schwellspannung: -4V
  • Verstärkung
    • VDD = -10 V, VGS = -5V+-110 mV, VDS = -1.82V +-440 mV, AV = 4

Messung 3N163

  • Sägezahn: -8V..0V
  • Amplitude 4V Offset -4V
  • Treppe:
  • Amplitude: 4V Offset: -6V
  • R=100Ohm, UGS=-6V, IDS=-2mA, UDS = 6V



MOSFET Parameterextraktion

\( I_{DS}= \cases{ 0 & \text{ für } U_{GS} \leq U_{th} \text{ Sperrbereich } \cr \beta \left( U_{GS}-U_{th} \right)^2 \left( 1+\lambda U_{DS} \right) & \text{ für } 0 \leq U_{GS} - U_{th} \lt U_{DS} \text{ Sättigung } \cr \beta \left( 2 \left( U_{GS}-U_{th} \right) U_{DS} - U_{DS}^2 \right) & \text{ für } 0\leq U_{GS} - U_{th} \geq U_{DS} \text{ Triodenbereich } } \)
\( \beta = \frac{\mu_{n} \epsilon_{ox}}{2d_{ox}} \frac{W}{L} = \frac{1}{2} \mu_{n} C_{ox}^{'} \frac{W}{L} = \frac{1}{2} K_{n}^{'} \frac{W}{L} = \frac{1}{2} K_{n} \)
Sättigungsbereich:
\( U_{GS} = const \); \( U_{DS1}, U_{DS2} \rightarrow \frac{I_{DS1}}{I_{DS2}} \rightarrow \lambda \)
\( U_{DS} = const \); \( U_{GS1}, U_{GS2} \rightarrow \frac{I_{DS1}}{I_{DS2}} \rightarrow U_{th} \)
\( \beta \)

Funktion:
\( y = \sqrt{I_{DS}} = \sqrt{\beta} \left( U_{GS} - U_{th} \right) \sqrt{\left( 1 + \lambda U_{DS} \right)} \)
\( y = \sqrt{\beta \left( 1 + \lambda U_{DS} \right)} U_{GS} - \sqrt{\beta \left( 1 + \lambda U_{DS} \right)} U_{th} \)
\( x = U_{GS} \), \( a = \sqrt{\beta \left( 1 + \lambda U_{DS} \right) } \) , \( b = - \sqrt{\beta \left( 1 + \lambda U_{DS} \right)} U_{th} = - a \cdot U_{th} \)
\( y = ax + b \)
1. Mathematische Methode:
Bei 2 Messungen bei gleicher Spannung UGS und unterschiedlicher Spannnung UDS im Sättigungsbereich erhält man aus dem Verhältnis der Ströme λ.
Bei 2 Messungen bei gleicher Spannung UDS und unterschiedlicher Spannnung UGS im Sättigungsbereich erhält man aus dem Verhältnis der Ströme Uth.
β kann man dann aus einer Messung durch einsetzen von IDS, Uth, λ und UGS berechnen.
2. Methode durch grafische Interpretation

Bei 2 Messungen bei gleicher Spannung UGS im Sättigungsbereich erhält man aus dem Verhältnis der Ströme λ. Trägt man die Wurzel des Stromes IDS über der Gate-Source-Spannung auf ergibt sich eine Geradengleichung.
Aus der Steigung dieser Geraden und dem y-Achsenabschnitt bei x = UGS0 ergeben sich Uth und bei kleinem λ und Vernachlässigung von λ UDS gegenüber 1 dann β.

Junction Field-Effect Transistor JFET (SFET Sperrschicht FET)

Ugs [V] Uds [V]
0 0
Ausgangskennlinie

Übertragungskennlinie

  • Much lower input current and much higher input impedance than the BJT.
  • In triode region, JFET is a voltage-controlled resistor:

\( R_{CH} = \frac{\rho}{t} \frac{L}{W} \)

\( \rho \) = resistivity of channel
L = channel length
W = channel width between pn junction depletion regions
t = channel depth
Inherently a depletion-mode device

Leistungs MOSFET

  • Hohe Spannung UDS

  • Niedriger RDSon

  • DMOS, VMOS, HEXFET
Vdmos cross section en
Quelle: Wikipedia

Fragen: MOSFET

Gleichungen

\( I_{DS}= \cases{ 0 & \text{ für } U_{GS} \leq U_{th} \text{ Sperrbereich } \cr \beta \left( U_{GS}-U_{th} \right)^2 \left( 1+\lambda U_{DS} \right) & \text{ für } 0 \leq U_{GS} - U_{th} \lt U_{DS} \text{ Sättigung } \cr \beta \left( 2 \left( U_{GS}-U_{th} \right) U_{DS} - U_{DS}^2 \right) & \text{ für } 0\leq U_{GS} - U_{th} \geq U_{DS} \text{ Triodenbereich } } \)
\( \beta = \frac{\mu_{n} \epsilon_{ox}}{2d_{ox}} \frac{W}{L} = \frac{1}{2} \mu_{n} C_{ox}^{'} \frac{W}{L} = \frac{1}{2} K_{n}^{'} \frac{W}{L} = \frac{1}{2} K_{n} \)
\( U_{th}= U_{th0} + \gamma \left( \sqrt{U_{SB}+2\phi_F}-\sqrt{2\phi_F}\right) \) \( g_m = \frac{2 I_D}{U_{GS}-U_{th}} \)
\( g_d = \beta \left( U_{GS}-U_{th} \right)^2 \lambda = \frac{I_{DS}\lambda}{1+\lambda U_{DS}} \simeq I_{DS} \lambda \) \( \omega_g = \frac{1}{RC} \)
R=RD=1/gD, C=CGD
Spannungsverstärkung: Transitfrequenz: vu=1
\( v_u(0) = -R \cdot g_m = - \frac{g_m}{g_D} = - \frac{2}{ \left(U_{GS}-U_{th}\right) \lambda} \)
\( \omega_T =\frac{g_m}{C} \sim \frac{U_{GS}-U_{th}}{L^2} \)

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12 Bipolartransistor